အီလက်ထရွန် အဏုကြည့်မှန်ပြောင်း
အီလက်ထရွန် အဏုကြည့်မှန်ပြောင်း (Electron microscope)သည် အလင်းဖိုတွန်များအစား အရှိန်မြှင့် အီလက်ထရွန်များကို အသုံးပြုသော အဏုကြည့်မှန်ပြောင်း ဖြစ်သည်။ (အလင်းသုံးမှန်ပြောင်းတွင် ကြည့်လိုသော အရာဝတ္ထုကို အလင်းဖိုတွန်များဖြစ် ပစ်ပေါက်ပြီး၊ ပြန်ကန်လာသော အလင်းဖိုတွန်များကို ကြည့်ခြင်းဖြင့် ၎င်းအရာဝတ္ထု၏ ပုံရိပ်ကို သိရှိနိုင်သည်။ ထို့အတူပင် အီလက်ထရွန် အဏုကြည့်မှန်ပြောင်းတွင် အရှိန်မြှင့် အီလက်ထရွန်များကို ကြည့်လိုသော အရာဝတ္ထုအပေါ် ပစ်ပေါက်ပြီး၊ ၎င်းအီလက်ထရွန်များကြောင့် အရာဝတ္ထု၏ တုံ့ပြန်အကျိုးသက်ရောက်မှုများကို စစ်ဆေးခြင်းဖြင့် ၎င်းအရာဝတ္ထု၏ ပုံရိပ်နှင့် သက်ဆိုင်ရာ အချက်အလက်များကို သိရှိနိုင်ခြင်း ဖြစ်သည်။)