ဖိုင်:AFMsetup.jpg

အခြားဘာသာစကားများဖြင့် စာမျက်နှာအကြောင်းအရာများကို ပံ့ပိုးမထားပါ။
This is a file from the Wikimedia Commons
ဝီကီပီးဒီးယား မှ

AFMsetup.jpg ‎(၇၂၁ × ၅၆၉ pixels, ဖိုင်အရွယ်အစား - ၈၆ KB, MIME အမျိုးအစား image/jpeg)

အကျဉ်းချုပ်

ဖော်ပြချက်
English: Typical atomic force microscope (AFM) setup: The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured by reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample.
Deutsch: Typischer Aufbau eines Rasterkraftmikroskops (RKM): Die Auslenkung eines Abtastarms (Englisch: Cantilever) mit einer feinen Tastspitze wird während des Abtastens der Oberfläche anhand der Auslenkung eines Laserstrahls bestimmt, der von der Oberseite des Abtastarms reflektiert wird.
ရက်စွဲ 2013-10-13--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)
ရင်းမြစ်

http://kristian.molhave.dk

စာရေးသူ yashvant
ခွင့်ပြုချက်
(ဤဖိုင်ကို ပြန်လည်အသုံးပြုခြင်း)		 CC-BY-2.5, please acknowledge the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology if you use this illustration!
File:AFM schematic (EN).svg is a vector version of this file. It should be used in place of this JPG file when not inferior.
File:AFMsetup.jpg → File:AFM schematic (EN).svg
For more information, see Help:SVG.
In other languages
Alemannisch ∙ Bahasa Indonesia ∙ Bahasa Melayu ∙ British English ∙ català ∙ čeština ∙ dansk ∙ Deutsch ∙ eesti ∙ English ∙ español ∙ Esperanto ∙ euskara ∙ français ∙ Frysk ∙ galego ∙ hrvatski ∙ Ido ∙ italiano ∙ lietuvių ∙ magyar ∙ Nederlands ∙ norsk bokmål ∙ norsk nynorsk ∙ occitan ∙ Plattdüütsch ∙ polski ∙ português ∙ português do Brasil ∙ română ∙ Scots ∙ sicilianu ∙ slovenčina ∙ slovenščina ∙ suomi ∙ svenska ∙ Tiếng Việt ∙ Türkçe ∙ vèneto ∙ Ελληνικά ∙ беларуская (тарашкевіца) ∙ български ∙ македонски ∙ нохчийн ∙ русский ∙ српски / srpski ∙ татарча/tatarça ∙ українська ∙ ქართული ∙ հայերեն ∙ বাংলা ∙ தமிழ் ∙ മലയാളം ∙ ไทย ∙ 한국어 ∙ 日本語 ∙ 简体中文 ∙ 繁體中文 ∙ עברית ∙ العربية ∙ فارسی ∙ +/−
New SVG image

လိုင်စင်သတ်မှတ်ခြင်း

w:my:Creative Commons
မှတ်ယူနိုင်ခြင်း
ဤဖိုင်သည် Creative Commons Attribution 2.5 Generic လိုင်စင်အောက်တွင် လိုင်စင်သတ်မှတ်ထားပါသည်။
သင်သည် လွတ်လပ်စွာ:
  • မျှဝေရန် – ဖန်တီးမှုကို ကူးယူရန်၊ ဖြန့်ဖြူးရန်နှင့် ထုတ်လွှင့်ရန်
  • ပြန်ရောနှောရန် – ဖန်တီးမှုကို ပြင်ဆင်ညှိနှိုင်းရန်
အောက်ပါ အခြေအနေများတွင်:
  • မှတ်ယူနိုင်ခြင်း – ပြောင်းလဲမှုများ ပြုလုပ်ခဲ့ပါက ဖန်တီးသူ သို့မဟုတ် လိုင်စင်ရှိသူမှ သတ်မှတ်သော အမျိုးအစားကို လိုက်နာရမည် (ဆိုလိုသည်မှာ သင့်အား သို့မဟုတ် သင့်ဖန်တီးမှုတွင် အသုံးပြုခြင်းအား ထောက်ခံချက်ပေးသည်ဟု မဆိုလိုပါ)။

ပုံစာများ

ဤဖိုင်၏ဆိုလိုရင်းကို စာတစ်ကြောင်းရှင်းလင်းချက်ဖြင့် ထည့်သွင်းရန်

Items portrayed in this file

depicts အင်္ဂလိပ်

media type အင်္ဂလိပ်

image/jpeg

checksum အင်္ဂလိပ်

e554ced62e546be1eaba9097f6f6078f0da81eca

determination method အင်္ဂလိပ်: SHA-1 အင်္ဂလိပ်

data size အင်္ဂလိပ်

၈၈၀၇၁ ဘိုက်

height အင်္ဂလိပ်

၅၆၉ pixel

width အင်္ဂလိပ်

၇၂၁ pixel

ဖိုင်မှတ်တမ်း

ဖိုင်ကို ယင်းနေ့စွဲ အတိုင်း မြင်နိုင်ရန် နေ့စွဲ/အချိန် တစ်ခုခုပေါ်တွင် ကလစ်နှိပ်ပါ။

နေ့စွဲ/အချိန်နမူနာပုံငယ်မှတ်တမ်း ဒိုင်မန်းရှင်းများအသုံးပြုသူမှတ်ချက်
ကာလပေါ် ၁၄:၁၀၊ ၂၁ နိုဝင်ဘာ ၂၀၀၆ ၁၄:၁၀၊ ၂၁ နိုဝင်ဘာ ၂၀၀၆ ရက်က မူအတွက် နမူနာပုံငယ်၇၂၁ × ၅၆၉ (၈၆ KB)KristianMolhave*Figure Caption: Typical AFM setup. The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured be reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample. *This illustration was made

ဤဖိုင်ကို အသုံးပြုထားသော စာမျက်နှာများမရှိပါ။

ဂလိုဘယ် ဖိုင်သုံးစွဲမှု

အောက်ပါ အခြားဝီကီများတွင် ဤဖိုင်ကို အသုံးပြုထားသည်-

ဤဖိုင်ကို အခြားနေရာများတွင် အသုံးပြုထားမှုများအား ကြည့်ရှုရန်။

"https://my.wikipedia.org/wiki/ဖိုင်:AFMsetup.jpg" မှ ရယူရန်